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テク・トライアングル社は、静電防止特性の評価を行う減衰測定装置(Static Decay Meter)他の測定装置 を権威ある米国の静電気測定装置メーカ、electro-tech systems (ETS社)から輸入しております。又、測定評価を専門知識ある解析でお客様に智慧を授けるよう全力投球し続けております。

2016 ワークショップ：新型Model 4406によるデータ解析

 

 

減衰測定分析装置  Model 4406

 

自動で校正ができます。

 

分解能は　0.001(1msec)までアップグレード

信頼性・ESD対策技術展⽰会：

静電気の影響を受けやすい電子デバイス・部品、電子機器などを扱う信頼性技術者、設計技術者、品質技術者の方々を対象に、より進歩した静電気障害対策技術、静電気測定技術、故障解析技術を扱う専門の展示会です。

  1. 日時：平成28年11月29日（火）～11月30日（水）
    （11月28日（月）は準備日）
  2. 場所：大田区産業プラザ（東京、蒲田）2階 小展示場

 

2016ワークショップ：

弊社は2016年11月29日(火)15:15～15:55に行います。詳しくはhttp://rcj.or.jp/exhibitionの閲覧お願いいたします。

 

テーマは”電荷減衰測定装置による帯電防止評価"です。

 

＜内容＞

１．測定装置の説明

２．電荷減衰規格について

３．試料のデータ解析

 

 

 

 

お知らせ

2016 第26回 RCJ信頼性シンポジウム参加者募集
  1. 日時：平成28年11月29日（火）～11月30日（水）
  2. 場所：大田区産業プラザ（東京、蒲田）4階 コンベンションホール

RCJ信頼性シンポジウムは、ESD現象とESD対策、及び電子デバイス・電子部品信頼性電子部品信頼性に特化したシンポジウムです。皆様のご参加をお待ちしています。

 

2016年第26回シンポジウムのトピックス

  1. Charvaka Duvvury氏の講演（昨年に引き続き）

    Industry councilのwhite paper 4（EOS故障の理解と対策について）とJEDECの最新のHBM/CDM試験方法（特にピンコンビネーションの省略化について）

  2. Dr. Guido Notermans氏（NXP）の講演

    2015 EOS/ESDシンポジウムの優秀論文の発表。高速インターフェースのオフ－チップ保護についての講演

  3. Dr. Natarajan Mahadeva Iyer氏（Global Foundries）の講演

    「パワートランジスタの安全動作領域のESDによる劣化」についてのご講演

  4. パワー半導体信頼性とLSI信頼性を中心とした半導体故障物理セミナー

    最近注目されている次世代パワー半導体信頼性、及びLSI信頼性（特にばらつきと信頼性、及び最新の信頼性試験方法）をテーマとしたセミナー

  5. 機能安全セミナー

    機能安全とリスクマネジメントと半導体LSIのソフトエラーとISO 26262での対応をテーマとしたセミナー

　　　

    

 

 

お問い合わせ

TEL:  0475-36-7037

FAX:  0475-34-3965