電荷減衰規格

1.FEDERAL TEST METHOD 101C METHOD 4046(米国連邦政府試験基準)及び

  MIL STD 3010B TEST METHOD 4046(米軍規格)---2008年度改訂版

  (内容)

  減衰測定装置(Model406D及び同等品)を使用し下記環境で測定を行う。

      温度: 23±5℃ 相対湿度: 12±3%rh

      試料のサイズ:3x5"(7.62x12.7cm)又は3-1/2 x5-1/2"(8.89x13.97cm)

      最低測定枚数:3

      以上のテスト条件に試料を24-48時間放置した後、測定のこと。

2.MIL-PRF-81705D(米軍規格---電子包装材料(袋,ポーチ)の規格)

  合格基準:

  試料に±5KV印加後、99%に拡散するのに要する時間が2秒以下。

3.EIA541(米国電子工業会規格---電子包装材料の規格)

  合格基準:

  表記テスト条件で、試料に±5KV印加し、20msec以内に拡散させ50±5Vになるまでに要する

  時間が2秒以下。

4.NFPA99(米国消防庁規格---帯電防止フィルム、シート、衣服繊維の規格)

  合格基準:

  テスト条件(温度23±1℃、相対湿度50±2%)に試料を少なくとも25時間以上放置した後

      試料に5KV印加後、その電位が10%(500V)になりまでに要する時間が0.5秒以下。

5.RCJS-5-1(日本電子部品信頼性センタ規格---電子包装材料の規格)

  合格基準:

  テスト条件はFEDERAL TEST METHOD 101C 4046に従って行い、99%に拡散するのに

  要する時間が2秒以下。

  

 

 

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